LIP6 2002/004
- Soutenance de thèse
Analyse du Bruit dû aux couplages capacitifs dans les Circuits Intégrés numériques fortement Submicroniques - F. Ilponse
- 156 pages - 26/04/2002- document en - http://www.lip6.fr/lip6/reports/2002/lip6.2002.004.pdf - 1,174 Ko
- Contact : Fabrice.Ilponse (at) nulllip6.fr
- Ancien Thème : ASIM
- Mots clés : Vérification, Bruit, Diaphonie capacitive, Submicronique, Pic de tension, Délai, Structure de données
- Directeur de la publication : Francois.Dromard (at) nulllip6.fr
Cette thèse vise le domaine de la vérification de circuits intégrés dans les technologies fortement submicroniques. Les circuits utilisés sont étudiés au niveau de leur implémentation physique, en considérant les transistors et les interconnexions avec les capacités intrinsèques des signaux ainsi que les capacités de couplage. Le phénomène étudié est la diaphonie capacitive. Nous proposons, dans ce manuscrit, une méthode dévaluation du bruit sur les signaux des circuits. Cette mesure est la différence de potentiel (pic de tension) engendré par linjection de courant provenant des signaux voisins à travers les capacités de couplage. La mesure attendue par un concepteur est le bruit maximum pouvant survenir sur chaque signal et probablement les signaux voisins intervenant dans ce bruit. Le bruit étant lié à lactivité dans le circuit, deux méthodes de prise en compte des transitions des signaux sont proposées afin de se rapprocher de la réalité de fonctionnement du circuit. La première méthode est une méthode maximaliste tandis que la seconde examine les aspects temporels du circuit en effectuant une sélection des signaux selon leurs intervalles dinstabilité. Finalement, une structure de données appropriées pour la gestion des circuits contemporains volumineux est décrite. Tous les traitements sont opérés sur cette structure de données. Un prototype logiciel utilisant les principes décrits dans cette thèse, CRISE (Crosstalk RISk Evaluation), a été développé. Ce logiciel démontre lefficacité de la structure de données mise en place pour gérer des circuits de plusieurs millions de transistors, l'efficacité de la sélection effectuée sur les signaux et enfin la précision du modèle de calcul du bruit sur les signaux victime qui génère une erreur acceptable par rapport à des simulations électriques. CRISE a analysé un circuit de plus d'un million de transistors avec succès dans un délai très raisonnable.