SPYROU Theofilos
Direction de recherche : Haralampos STRATIGOPOULOS
Sûreté fonctionnelle et fiabilité des systèmes neuromorphiques
L'essor récent de l'intelligence artificielle (IA) a trouvé un large éventail d'applications qui l'intègrent essentiellement dans presque tous les domaines de notre vie. Avec une telle intégration de l'IA, il est raisonnable que des préoccupations surgissent, qui doivent être éliminées avant l'emploi de l'IA sur le terrain, en particulier dans les applications critiques en termes de mission et de sécurité, comme les véhicules autonomes. Les réseaux neuronaux à impulsions (Spiking Neural Networks, SNNs), bien que d'inspiration biologique, n'héritent que partiellement des remarquables capacités de résistance aux pannes de leurs homologues biologiques, car ils sont vulnérables aux défauts électroniques et aux pannes survenant au niveau du matériel. Par conséquent, une exploration méthodologique des caractéristiques de fiabilité des accélérateurs matériels d'IA et des plateformes neuromorphiques est de la plus haute importance. Cette thèse aborde les sujets du test et de la tolérance aux fautes dans les SNNs et leurs implémentations neuromorphiques sur le matériel.
Soutenance : 07/06/2023
Membres du jury :
Lorena Anghel, Professeure, Grenoble INP, Spintec, Grenoble [Rapporteur]
Paolo Rech, Professeur Associé, Université Degli Studi de Trento, Italie [Rapporteur]
Bertrand Granado, Professeur, Sorbonne Université, CNRS, LIP6, Paris
Said Hamdioui, Professeur, Université Technologique de Delft, Pays-Bas
Alkiviadis Hatzopoulos, Professeur, Université Aristote de Thessalonique, Grèce
Haralampos Stratigopoulos, Directeur de Recherche, Sorbonne Université, CNRS, LIP6, Paris
Publications 2020-2023
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2023
- Th. Spyrou : “Functional safety and reliability of neuromorphic computing systems”, soutenance de thèse, soutenance 07/06/2023, direction de recherche Stratigopoulos, Haralampos (2023)
- Haralampos‑G. Stratigopoulos, Th. Spyrou, S. Raptis : “Testing and Reliability of Spiking Neural Networks: A Review of the State-of-the-Art”, 36th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2023), Juan-Les-Pins, France (2023)
- Th. Spyrou, Haralampos‑G. Stratigopoulos : “On-Line Testing of Neuromorphic Hardware”, 2023 IEEE European Test Symposium (ETS), Venise, Italy, pp. 1-6, (IEEE), (ISBN: 979-8-3503-3634-4) (2023)
- S. El‑Sayed, Th. Spyrou, L. Camuñas‑Mesa, Haralampos‑G. Stratigopoulos : “Compact Functional Testing for Neuromorphic Computing Circuits”, IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 42 (7), pp. 2391-2403, (IEEE) (2023)
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2022
- Th. Spyrou, S. El‑Sayed, E. Afacan, L. Camuñas‑Mesa, B. Linares‑Barranco, Haralampos‑G. Stratigopoulos : “Reliability Analysis of a Spiking Neural Network Hardware Accelerator”, Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE), Antwerp, Belgium, pp. 370-375, (IEEE) (2022)
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2021
- Th. Spyrou, S. El‑Sayed, E. Afacan, L. Camuñas‑Mesa, B. Linares‑Barranco, Haralampos‑G. Stratigopoulos : “Neuron Fault Tolerance in Spiking Neural Networks”, 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Grenoble (virtuel), France, pp. 743-748, (IEEE) (2021)
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2020
- S. El‑Sayed, Th. Spyrou, A. Pavlidis, E. Afacan, L. Camuñas‑Mesa, B. Linares‑Barranco, Haralampos‑G. Stratigopoulos : “Spiking Neuron Hardware-Level Fault Modeling”, 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Naples, Italy (2020)