Direction de recherche : Habib MEHREZ

Co-encadrement : BAZARGUAN-SABET Pirouz, DOYEN Lise

Prévision des effets de vieillissement par electromigration dans les bibliothèques et les systèmes sur puces CMOS

L’électromigration (EMG) est l’une des conséquences de la course à la miniaturisation des composants électroniques en général et la réduction des dimensions des interconnexions en particulier. Il est identifié comme l’un des phénomènes critiques de fiabilité pour les circuits intégrés en technologies submicroniques. Les méthodes de vérification de ce phénomène utilisées durant la conception de circuits sont pour la plupart basées sur des règles de densité de courant et de température. Ces règles deviennent de plus en plus difficiles à mettre en place, compte tenue de l’augmentation des densités de courant dans les réseaux d’interconnexions. Les travaux de cette thèse s’inscrivent dans la dynamique de recherches de moyens d’amélioration de la détection des risques d’électromigration durant la phase de conception. Le but est d’établir une relation entre violations des règles électriques et la physique de dégradation des interconnexions. Les résultats obtenus au cours des tests de vieillissement nous ont permis de repousser les limites de courant sans altérer les durées de vie des circuits. Enfin, ce projet été l’occasion de définir des règles conception basé sur l’optimisation des cellules d’horloges dans la grille d’alimentation des circuits intégrés. L’application des solutions proposées au cours de ces travaux ont permis de réaliser des circuits robustes aux effets EMG.

Publications 2013-2014

• 2014
  • B. Ouattara : “Prévision des effets de vieillissement par electromigration dans les bibliothèques et les systèmes sur puces CMOS”, soutenance de thèse, soutenance 08/07/2014, direction de recherche Mehrez, Habib, co-encadrement : Bazarguan-sabet, Pirouz, Doyen, Lise (2014)
  • B. Ouattara, L. Doyen, D. Ney, H. Mehrez, P. Bazargan‑Sabet : “Power grid redundant path contribution in system on chip (SoC) robustness against electromigration”, Microelectronics Reliability, vol. 54 (9-10), pp. 1702-1706, (Elsevier) (2014)
• 2013
  • B. Ouattara, L. Doyen, D. Ney, H. Mehrez, P. Bazargan‑Sabet, F. Bana : “Redundancy Method to assess Electromigration Lifetime in power grid design”, IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC),, Kyoto, Japan, pp. 81-83, (IEEE) (2013)