FLORENT Olivier
Docteur - ASIM
Date de départ : 01/07/1998
https://www.lip6.fr/production/publications-rapport-fiche.php?RECORD_KEY%28rapports%29=id&id(rapports)=76
Date de départ : 01/07/1998
https://www.lip6.fr/production/publications-rapport-fiche.php?RECORD_KEY%28rapports%29=id&id(rapports)=76
Direction de recherche : Alain GREINER
Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant
Soutenance : 30/06/1998
Date de départ : 01/07/1998Publications 1997-1998
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1998
- O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, thèse, soutenance 30/06/1998, direction de recherche Greiner, Alain (1998)
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1997
- O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)