FLORENT Olivier
PhD student at Sorbonne University - ASIM
https://www.lip6.fr/production/publications-rapport-fiche.php?RECORD_KEY%28rapports%29=id&id(rapports)=76
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Supervision : Alain GREINER
Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant
Defence : 06/30/1998
Departure date : 07/01/19981997-1998 Publications
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1998
- O. Florent : “Une méthode de test des circuits intégrés, basée sur un découpage structurel peu recouvrant”, thesis, phd defence 06/30/1998, supervision Greiner, Alain (1998)
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1997
- O. Florent : “Génération distribuée de vecteurs de test par découpage structurel”, 1er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Grenoble, France, pp. 242-245 (1997)